KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。Langmuir膜分析仪(配置显微镜窗口)为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备，适用于制备、改性和研究Langmuir膜。

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LUV-40紫外线防护面罩是美国路阳精心研制的高亮度紫外线防护面罩，能够有效防护短波紫外线（UVC)、中波紫外线(UVB)、长波紫外线(UVA)的辐射

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Attension光学接触角测量仪器被广泛用于表界面研究的科研、开发和质量控制。可以帮助您轻松准确地表征您所需了解的表面情况，从而节省您宝贵的时间和经费。Theta Lite是一款稳健紧凑型的光学表面接触角仪，能够进行方便而精准的操作。当不需要自动进样时，它可以完

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CI-420便携式叶面图像分析仪--通过手持式扫描仪的快速扫描，您可以很轻松地获得一幅分辨率很高的叶面图像，通过图像处理软件，可以测量叶片的面积、长度、宽度、周长、角度、长宽比、形状因子等多种参数。

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面粉厂、食品厂和科研机构检测和控制面粉质量检测磨辊是否调节合适，如平行，磨损 

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仪器简介：Sigma 700和Sigma 701是非常出众的力学张力仪，可进行一系列的测量，并可适应多种多样的实验要求。这一普适性使得他们非常适用于科研、研发、工业质量控制和教学之用。

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仪器特点： MC-2000(A、C、D)型涂（镀）层测厚仪是高新技术的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全

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四点弯-半导体薄膜结合力检测系统V8.2是独创的四点弯测试系统，来自于史坦福大学，半导体专业生产线应用，经历超过8年的开发和优化来提高测试能力、稳定性和产量。系统和软件的控制通过大量的修正来提高测试能力、控制和数据分析。可以满足微电子设备、工具和材料公司的

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Discovery氙灯导热仪(DXF)使用高速氙灯脉冲发射源(HSXD)。与激光导热仪相比，其价格更低、所需的维护更少，但能得到相同的测试效果。反射式光学系统充分利用了氙灯闪光管的功率，并将其传输到样品上。

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计算机图像分析系统:在Windows下运行的CI-400计算机图像分析系统(CIAS)使您能够对彩色或黑白图像完成“开始—终了”的一系列操作

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